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發(fā)布時(shí)間: 2018-2-1 20:34
正文摘要:在深入了解scan技術(shù)之前，我們先來(lái)比較下分別針對(duì)組合電路和時(shí)序電路的測(cè)試過(guò)程。很顯然，在芯片制造出來(lái)后，我們只能通過(guò)其輸入輸出端口來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行各項(xiàng)檢測(cè)。在如圖A所示的組合電路中，假設(shè)F處有一短接電源地的固 ... |
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