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前言
STM32全系列產品都具有CRC外設，對CRC的計算提供硬件支持，為應用程序節省了代碼空間。CRC校驗值可以用于數據傳輸中的數據正確性的驗證，也可用于數據存儲時的完整性檢查。在IEC60335中，也接受通過CRC校驗對FLASH的完整性進行檢查。在對FLASH完整性檢查的應用中，需要事先計算出整個FLASH的CRC校驗值（不包括最后保存CRC值的字節），放在FLASH的末尾。在程序啟動或者運行的過程中重新用同樣的方法計算整個FLASH的CRC校驗值，然后與保存在FLASH末尾的CRC值進行比較。
EWARM從v5.5版本之后開始支持STM32芯片的CRC計算。前面所說的計算整個FLASH的CRC校驗值并保存在FLASH末尾的過程，可以在IAR中完成。通過配置EWARM的CRC計算參數，自動對整個FLASH空間進行CRC計算，并將計算結果放到FLASH的末尾。本文中將介紹的就是如何配置IAR的CRC參數，使之與STM32的CRC硬件模塊保持一致。本文中的例子都基于STM32F072進行。
STM32的CRC外設
CRC校驗值的計算采用多項式除法，可以通過除數和被除數進行異或運算實現。這種方法非常適合通過硬件電路來實現。
使用STM32CRC外設時，你要考慮的內容包括：采用哪個CRC生成多項式，輸入數據（要進行校驗的數據）和初始值。
1.生成多項式
默認使用CRC32多項式：0x4C11DB7
部分芯片支持可編程的多項式，比如STM32F3，STM32F0，STM32L0
2.初始值
STM32的CRC初始值默認為0xFFFFFFFF，STM32F3，STM32F0，STM32L0系列可以修改初始值
3.輸入/輸出數據的反轉
STM32F3，STM32F0，STM32L0系列還提供了對輸入/輸出數據進行反轉的功能。
默認不對輸入數據和輸出數據進行位反轉
· 對輸入數據的位反轉操作可以設置為按字節/半字 /字為單元進行操作。例如輸入數據為0x1A2B3C4D,
o 每個字節內逐位反轉，結果是0x58D43CB2
o 每半字內逐位反轉，結果是0xD458B23C
o 每個字長內逐位反轉，結果是0xB23CD458
· 對輸出數據的位反轉。
o 例如輸出數據為0x11223344,反轉后為0x22CC4488
IAR的CRC配置
1.修改Link文件
指定checksum在FLASH中的存儲位置，在Link文件中增加下面語句。
該語句指定將CRC的值放在FLASH的末尾位置。是整個FLASH空間的末尾，不是應用程序的代碼末尾。這樣，CRC值的位置就是固定的。不會隨代碼大小而變化。
2.配置Checksum頁面的參數
IAR Checksum頁說明（v6.4及以上）
IAR的checksum頁面分為兩個部分。
第一部分，也就是紅線圈出的部分。定義了FLASH中需要計算CRC的范圍和空閑字節填充值。
剩下的部分，就是對checksum計算參數的設定部分。
Checksum size ：選擇checksum的大�。ㄗ止潝担�
Alignment：指定checksum的對齊方式。不填的話默認2字節對齊。 Algorithm：選擇checksum的算法
Complement：是否需要進行補碼計算。選擇“Asis”就是不進行補碼計算。
Bit order：位輸出的順序。MSB first，每個字節的高位在前。LSB first，每個字節的低位在前。
Reverse byte order within word： 對于輸入數據，在一個字內反轉各個字節的順序。
Initial value： checksum計算的初始化值
Checksum unit size ：選擇進行迭代的單元大小，按8-bit，16-bit還是32-bit進行迭代。
3.STM32 CRC外設使用默認配置時IAR的配置
STM32CRC外設的配置：
POLY= 0x4C11DB7（CRC32）
Initial_Crc = 0Xffffffff
輸入/輸出數據不反轉
輸入數據：0x08000000~0x0801FFFB。(最后4個字節用來放計算出的CRC值)
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