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PCB板ATE測試探針卡設計和生產的核心技術要求,你知道多少?

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ID:1087304 發表于 2025-12-15 15:20 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
高速先生成員--王輝東
在芯片產業向高算力、高集成度邁進的當下,芯片線寬尺寸不斷減小,耐高壓、耐高溫、功率密度不斷增大、制造工序日趨復雜,對半導體測試設備要求愈加提高,測試設備的制造需要綜合運用計算機、自動化、通信、電子和微電子等學科技術,具有技術含量高、設備價值高等特點。每一顆凝聚著頂尖智慧的芯片,在走向市場前,都必須通過一道嚴苛的測試關卡——ATE(自動測試設備)測試。
作為銜接價值數百萬美元測試機臺(Tester)與待測芯片(DUT)的物理 “神經中樞”,ATE 測試板(涵蓋負載板、探針卡 PCB 等核心品類)的性能表現,直接左右著測試數據的真偽、測試效率的高低,更深刻影響著芯片的最終量產良率。它早已超越傳統印刷電路板的單一屬性,進化為融合高頻信號傳輸、精密電源分配、高效熱管理與長期結構可靠性的高性能無源器件系統。當測試場景從實驗室的理想環境邁入產線大規模量產的嚴苛現實,這塊方寸之間的測試板,正面臨著信號完整性、電源完整性及復雜結構工藝的 “終極試煉”。
ATE 測試板作為連接設計與量產的關鍵載體,其戰略價值正被持續放大,半導體測試設備景氣度上升,國產化替代加速。
ATE 測試板:芯片產業的 “核心基石” 與不可替代價值
ATE( 測試板被定義為 “核心基石”,本質是其貫穿芯片全生命周期的不可替代性 —— 它是芯片性能的 “檢驗橋梁”,更是產業效率的 “保障中樞”。
ATE測試主要用于測試半導體芯片的電壓、電流、時間、溫度、電阻、電容、頻率、脈寬、占空比等參數,用于檢查芯片是否達到不同工作條件下的功能及性能要求。


在芯片從設計到量產的全流程中,它扮演三重關鍵角色:
一是:設計驗證階段的 “校準儀”,通過模擬真實工作環境,驗證芯片功能邏輯與性能參數是否符合設計預期;
二是:量產爬坡階段的 “篩選器”,高效剔除瑕疵產品,避免不良品流入下游導致成本浪費;
三是:質量管控階段的 “監測站”,持續追蹤芯片一致性與可靠性,為后續迭代提供數據支撐。
其性能直接影響三大核心指標:芯片測試的精準度(決定良率篩選有效性)、測試效率(影響量產周期與成本)、信號保真度(保障高算力芯片的性能還原度)。
沒有高性能 ATE 測試板,先進芯片的設計價值無法驗證,量產質量無法保障,產業規模化發展更無從談起。


不同類型的ATE測試設備需要不同的ATE PCB。


探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad,通常作為Load board的物理接口,在某些情況下Probe Card通過插座或者其它接口電路附加 到Load board上。
應用:晶元切割前,通過pc可以測試晶圓品質,避免不良產品產生封裝成本。晶圓檢測是指在晶圓出廠后進行封裝前,通過探針臺和測試系統配合使用,對晶圓上的芯片進行功能和性能的測試。成品測試是指芯片完成封裝后,通過分選機和測試系統配合使用,對芯片進行功能和電參數性能測試,保證出廠的每顆芯片的功能和性能指標能夠達到設計規范要求。
我司加工的58層ATE探針卡 Probe Card








一博PCB工廠在復雜ATE板制造方面擁有豐富的經驗,超多層的壓合控制,最厚可做130層PCB,高厚徑比鉆孔、電鍍、深V孔加工、DUT Pad和PCB的高平整度控制在30um以內、<3mil的層間對準精度、POFV工藝和局部鍍厚金工藝。此外一博PCB工廠擁有先進的PCB技術實驗室和高速PCB信號完整性測試,可以進行新材料的驗證和可靠性測試,并且對信號完整性測試有豐富的經驗。


圍繞ATE板批量很小,交期急的特點,一博PCB工廠建立了一套高效的交付流程。在制造前的ATE設計、DFM前期評估、工程制作、物料準備,制造過程中專線生產和訂單發貨后的售后服務,充分滿足芯片研發設計的周期需要。
部分ATE產品展示


ATE 測試板作為芯片測試的核心載體,其制程精度與性能穩定性直接決定測試鏈路的可靠性。一博科技基于長期技術積淀,構建了覆蓋 “工藝 - 驗證 - 交付” 的全維度制板優化體系:
1.精密制造工藝的針對性優化
針對超多層 PCB 壓合易出現的層間應力不均問題,一博通過全新的壓合設備(德國lauffer壓機)自主壓合參數校準方案,實現 130 層板件的無分層、低翹曲量產;同時對高厚徑比孔加工的孔壁鍍層均勻性、深 V 孔的形態一致性進行工藝迭代,將 DUT Pad 與 PCB 整體平整度控制在 30μm 以內,層間對準精度突破至 <3mil, POFV 工藝與局部鍍厚金工藝則實現了特殊場景下的性能與成本平衡。


2.全周期性能驗證的體系化優化
借助先進 PCB 技術實驗室,一博建立了從新材料導入驗證、多工況可靠性測試到高速信號完整性分析的全鏈路驗證流程,提前識別板件潛在風險,確保 ATE 板在高溫、高頻等嚴苛測試環境下的穩定運行。
3.小批量急單交付的流程化優化
針對 ATE 板訂單特性,一博重構交付鏈路:前置介入 ATE 設計階段開展 DFM 評估,同步完成工程與物料籌備;啟用專線生產保障產能優先級;配套專屬售后服務,實現從需求對接至交付落地的周期壓縮,精準適配芯片研發的窗口期需求。
提問:
關于ATE探針卡的生產和設計,大家遇到過什么難題,一起聊一聊。

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