關于一個硬件測試功能的實現問題

ID:613800 · 發表于 2019-11-15 15:35

現在要實現一個硬件的測試功能，先初始化控制它的模式，然后進行判斷；然后更換它的模式進行第二次判斷，再更換它的模式然后判斷；每次判斷的東西不一樣。
現在苦惱的是第一次判斷的模式設置在主函數中，其他模式設置到哪里？因為每次判斷都要延時很苦惱，太耗費時間了。延時主要是硬件原因，但是有些判斷幾次確多延遲了幾次。不知道怎么改節約時間。

void main(void)
{

      uint16 step=0,i=0;


Uart1Init();


      Timer0_Init();
      Timer1_Init();                //復位

      ES = 1;
EA = 1;

            step0_mode();//選擇模式子函數
            DelayMs(500);//延時

while(1)
{
{
判斷；
}
if(stp==1)
step1_mode();
DelayMs(500);//延時
{判斷；
}
if(stp==2)
step2_mode();
DelayMs(500);//延時
{
判斷；
}
if(stp==3)
step3_mode();
DelayMs(500);//延時
{
判斷；
}

ID:613800 · 發表于 2020-4-21 07:59

已經解決了，多謝大家

ID:123289 · 發表于 2019-11-15 15:35

1、在做本次測試期，就做好下一次測試的所有準備工作！
2、不要用DELAY做延時，以節省CPU的時間，并將這段時間利用起來，用于做下次測試的準備。

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關于一個硬件測試功能的實現問題

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