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理解功率MOSFET的Coss產(chǎn)生損耗

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發(fā)布時間: 2017-3-28 10:27

正文摘要:

功率MOSFET的Coss會產(chǎn)生開關(guān)損耗，在正常的硬開關(guān)過程中，關(guān)斷時VDS的電壓上升，電流ID對Coss充電，儲存能量。 在MOSFET開通的過程中，由于VDS具有一定的電壓，那么Coss中儲能的能量將會通過MOSFET放電，產(chǎn)生損耗。 ...

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