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理解功率MOSFET的Coss產(chǎn)生損耗

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發(fā)布時(shí)間: 2017-3-28 10:27

正文摘要:

功率MOSFET的Coss會(huì)產(chǎn)生開關(guān)損耗,在正常的硬開關(guān)過(guò)程中,關(guān)斷時(shí)VDS的電壓上升,電流ID對(duì)Coss充電,儲(chǔ)存能量。 在MOSFET開通的過(guò)程中,由于VDS具有一定的電壓,那么Coss中儲(chǔ)能的能量將會(huì)通過(guò)MOSFET放電,產(chǎn)生損耗。 ...

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