外部因素導(dǎo)致的ADC誤差來源分析

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發(fā)布時間: 2025-5-20 22:37

前面分享了ADC自身因素帶來的誤差，現(xiàn)在再分享一波由于外部因素導(dǎo)致的ADC采樣誤差。一、模擬信號源輸入減少帶來的誤差看一個STM32的ADC轉(zhuǎn)換器的示意圖：

回復(fù)

ID:469589 發(fā)表于 2025-6-10 09:38

夠全面，學(xué)習(xí)了。
補充一小點：
其實有時MCU自身的干擾也是不可忽視的，例如，I/O驅(qū)動、PWM設(shè)置USART對ADC影響也非常大，希望ADC采樣的開始前端能盡量避開這個操作，否則你會認(rèn)為ADC精度很差或者干擾很大，找不到問題。

ID:169559 發(fā)表于 2025-5-27 11:49

學(xué)習(xí)了，謝謝分享！

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