電容是千萬不能去掉的，ADC檢測需要給單片機內部的取樣電容充電，去掉C8后測出來的數就更不準了。你是有低功耗需求嗎，如果沒有的話ADC可以一直開著

我也遇到過，單片機ADC檢測時的IO輸入阻抗不夠，實在不行你用個放大器做下跟隨，或者湊合用做個補償也問題不大。

stm32XXX 這類MCU的ADC 的輸入內阻比較小(最大50kΩ, 見下圖), 影響了測量結果, 萬用表電壓檔一般在10MΩ, 內阻很大, 所以對測量結果影響很小.

要么, 你的電路自身內阻不能大, NTC最小也10kΩ, 這里不合適.
要么, 你加一個運放跟隨器(LMV358,LMV321),降低內阻.
要么, 你用軟件修正.

你用什么ADC芯片不去查下輸入阻抗嗎？看上去像是STM32，采樣率越高阻抗越小。

把電容去掉

727742898 發表于 2024-9-13 08:47
你看看我描述的，我沒用ntc

看了你的描述。首先我抱歉沒仔細看。
然后從硬件角度幾個想法和你說下。
第一我公司也是做產品的，也有用到熱敏電阻，但是一般情況下做這個電路VRFE必須（不說必須，盡可能）和單片機的VCC一致，因為部分墊片機有ADC-VREF標準電壓輸入引腳，如果沒有那單片機內部會直接用它的VCC電平作為ADC標準電壓，也就是如果我的單片機因為壓降導致它的VCC是2.5V（vcc標準應該是5V），那它測你2.5V電壓也會顯示是5V（因為ADC底層邏輯就是所測電壓等于VCC它就是5V)，這里你不能保證你的單片機的ADC標準電壓固定的話你和我說2.5V穩定不變對于ADC采集沒有任何意義.你要保證的是VCC穩定或者說單片機的ADC-VREF電壓穩定。
第二就是電壓跟隨電路，你可以搜下這個電路的功能，他就是隔離前后級電路的，防止前后級電路相互影響的，你這里要么在單片機IO前面加個電阻，要么加個電壓跟隨電路。你這個電路是粗略的ADC測算，你就不要想精度了，你都直接懟單片機IO口，IO口又不是百分百防御墻，他也要接地將電流弄走的，肯定會有壓降的，要么你自己弄個補償壓降的算法，要么隔離。

黃youhui 發表于 2024-9-12 09:25
電容應該并在NTC兩端

你看看我描述的，我沒用ntc

不正常，你要減小采樣次數，讓電容有時間充電

qq475878026 發表于 2024-9-12 09:08
ADC3的引腳是不是設置下拉了？

無上下拉

把這個電容下掉，兩顆電阻換成一樣的1k，然后再試一下，

電容應該并在NTC兩端

ADC3的引腳是不是設置下拉了？

1、R10和NTC的取值相等；
2、R10和NTC位置互換，R10和C8構成低通濾波器；
3、C8的容值太大，通常為104，它有兩個作用，一是構成低通濾波的功能，二是抑制溫度使NTC阻值快速變化；
4、MCU和NTC的供電電壓均為5V；
5、NTC測溫通常采用兩路，一路采集電路板溫度，另一路采集被測物體的溫度，消除電路板溫升引起的溫差；
6、C8接一個電壓跟隨器；
7、軟件增加濾波功能，如采集十次，去掉兩個最值，再取平均值；
8、5V電源最好由LDO提供。