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標題: 求救:STM32F042K6T6高低溫測試時死機 [打印本頁]

作者: callan 時間: 2017-6-22 18:00
標題: 求救:STM32F042K6T6高低溫測試時死機
最近公司有個項目上面用的STM32F042K6T6做CAN通信。現在做高低溫測試時總是死機，平時都是正常的，高溫最高60度，低溫最低-20度，死機不是發生在高溫或者低溫，而是發生在從60度恢復到0度或者從-20度恢復到0度。MCU已經使用了IWDG和WWDG，但是都起不到復位的作用，求救啊！

參考原理圖.jpg (189.63 KB, 下載次數: 149)

參考原理圖

作者: yzwzfyz 時間: 2017-6-22 22:43
多半是：
程序中有死待某個標記，用C寫的程序常有此問題（因為按正常邏輯及狀況，這個標記一定會出現，程序未考慮循特殊情況的出現）。
比如：某個硬件在異常狀態下給不出標記時，程序又死等它出現。

我一般比較注意有死等某個標記地方，在死等的語句中插入時間限制（時間由中間程序控制，計時與死待無關），等不到標記，但時間到了就跳出。
如何找到死等的點呢？
給程序運行加追蹤器：
比如：程序有10個步驟或任務或其它什么，用一個寄存器R_RUN，運行到任務1就讓R_RUN=1，運行到任務N就讓R_RUN=N。也就是說只要知道R_RUN的值就能知道程序運行到什么任務（地方）。
當看門狗復位動作時，運行一個輸出R_RUN的程序（寫一個顯示程序或其它可以輸出的方式）
這樣你就知道，程序死在什么地方了。任務分得越細越易找到問題。

作者: qwert126 時間: 2017-6-23 09:25
不懂，完全看不懂

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