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標題: 低成本的IO電壓檢測方案 [打印本頁]

作者: liumei 時間: 2014-5-6 15:15
標題: 低成本的IO電壓檢測方案
先聲明一下：本檢測方法精度很低，只能用于要求不高的場合。

電路只要一個電阻和一個電容，和占用一個IO口，電路如下：

方法：
1、先將IO口設為輸出并置成低電平，對電容C放電；
2、再將IO口設為輸入，同時啟動MCU內部的計數器；
3、電池電壓Vbat將通過電阻R對C充電，同時MCU檢測IO口的狀態；
4、當檢測到IO口為高時，停止計數；
5、將IO口重新設為輸出0；
6、此時計數值與Vbat的值相對應。

Vbat的計算方法：可以通過查表加插值方法計算出電壓值，表的制作方法是：用一組已知的電壓測出對應的計數值，寫入到程序里。

如果要提高檢測的精度，可以單獨對每個產品獨立調校，將得到的表格數據寫入到EEPROM內。

本方案可以用于無AD的MCU，又需要電池電壓檢測的低成本的應用中。

作者: meilidianzhi 時間: 2014-7-15 21:57

作者: dpj520 時間: 2018-6-15 10:07
好文章,可以學到很多東西

作者: axkf 時間: 2019-2-9 16:53
好文章,可以學到很多東西

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