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標題: 根據半導體集成電路運算放大器測試方法的基本原理求幫助 [打印本頁]

作者: 遇為你 時間: 2020-12-14 09:08
標題: 根據半導體集成電路運算放大器測試方法的基本原理求幫助
根據GB3442-1986半導體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理，設計一個用于測量運算放大器失調的簡易測試儀，測試儀包含模數轉換模塊、失調電壓測試電路、數模轉換模塊、單片機核心模塊、鍵盤與顯示模塊等，失調電壓測試范圍0.1mV-10mV，測量誤差不大于30%，測試結果顯示在OLED/LCD上。

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